Sensofar Smart 2

Sensofar Smart 2 是一款面测量系统。

与点或线测量方式不同, 面测量意味着它可以一次对整个区域进行成像, 因此在X 和 Y方向上的横向分辨率保持一致。此外, 我们的区域测量

可追溯到由 PTB、NPL 或 NIST 等国家测量机构认证的校准样品。

性能优势：

干涉＋共聚焦测量头，对横向分辨率、准确性和重复性有高要求的标准时，更容易满足；

测量头包含了计算核心及所有电子设备，易于集成；

光学成像技术: Ai多焦面叠加和共聚焦 ；

强大的功能和紧凑的设计使其成为光学领域的重要突破；

易于安装，易于连接。