phoenix microme|x　 高性能X射线检测系统
phoenix microme|x系列结合高分辨率二维X射线技术和CT技术于一体,性能优异且运行定位精确高使
得系统具有高效和可靠的特点, 广泛应用于二维和三维离线检测要求: 产品研发, 失效分析, 产品制造
和质量控制。
phoenix|x-ray x|act技术提供了简便的基于CAD文件导入的自动检测程序, 具有微米级检测能力, 特别
是受益于GE高动态响应和主动冷却特性的DXR平板探测器, 有可达30fps刷新率, 提供了杰出的实时清
晰图像和高速三维CT扫描性能。

特点：

-自主冷却和温度稳定控制的数字DXR平板探测器具有高动态响应进行实时成像
-细节分辨率可达0.5微米的180kV/20W高功率亚微米
-具有CAD文件导入的x|act软件可编程和自动检测
-采用金刚石靶材（无毒），在同等质量影像条件下数据截取的速度可快2倍
-可选三维CT扫描功能，实现10秒的快速扫描

-最大检测区域：460mm   x   360mm

-最大样品检测尺寸：680mm   x   635mm

-最大倾斜角±70°

-五轴移动控制

-全系自主研发的射线管　　高压发生器和非晶硅平板探测器