20
年行业经验
6,000
+客户方案
2
家研发中心
18
项技术认证
10
+质量体系认证
半导体与电子失效分析 · 无损检测整体方案
北京朗时云帆专注半导体、军工电子与高端制造的失效分析与无损检测，提供从元器件到系统的完整检测能力：工业 CT（X 射线三维成像）、超声扫描显微镜（SAT/C-SAM，用于分层与空洞检测）、内部水汽含量与 PIND 多余物分析、3D 光学轮廓、SEM/FIB 微观表征、EMMI/热分布失效定位，以及氦质谱检漏。
公司代理 Phoenix、ZEISS、日立Hitachi、Sensofar、Inficon、Diener 等品牌设备，并具备自研检测系统能力，覆盖芯片开封、去层、截面制备等失效分析全流程。针对客户样品，提供免费上机检测与方案论证，出具可引用的检测数据与报告，广泛应用于航空航天、汽车电子、功率器件与科研院所。
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